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液晶顯示屏的ESD和(hé)EOS怎麽(me)破

更新時(shí)間:2022-04-13      點擊次數:1672

越來越多的電(diàn)子產品(pǐn)加上液晶屏,包括手(shǒu)機觸摸屏,平板電腦觸摸屏(píng)和數碼(mǎ)相(xiàng)機觸摸屏。這些麵板和主板之間最常見的數據連(lián)接接口(kǒu)是(shì)MIPI(移(yí)動行業處理器接口)。通過添加小(xiǎo)型TVS  ESD靜電保護解決方案並提高ESD和EOS耐受水平,可以大大減少電子產品在日常生活(huó)中受到幹擾甚至被(bèi)破壞(huài)的機會,從而延長了產品的使用壽命(mìng),降低了返修率,從而使消(xiāo)費者對產品的(de)信任度更高,同時也提(tí)高(gāo)了(le)品牌(pái)聲譽。

隨著小型智能產品的普及,各種消費電子產品正在快速(sù)變化,並且越(yuè)來越多的集成(chéng)和複雜的產品已經出現。麵(miàn)板顯示技術也發生了前.所.未有的變化(huà)。隨著顯示麵板分辨率的提高,數據(jù)傳輸變得更加複雜和快速。但是,這也使數據(jù)傳輸更容易受到(dào)外部幹擾,最常見(jiàn)的幹擾因素是ESD和(hé)EOS。如何有效地(dì)保護麵板,避免ESD/ EOS攻(gōng)擊對功能運行甚至損害的影響(xiǎng),是我(wǒ)們(men)亟待解決的問題。

1.什麽(me)是ESD/ EOS?

ESD是靜電放電。這是由於摩擦,電感等引起的電位差導致兩個物體彼此靠近或彼此直(zhí)接接觸時發生電荷轉移的現象。在(zài)現實生活(huó)中(zhōng),特別是在濕(shī)度較低的環境中,ESD事件經常發生。例(lì)如,如果在冬天摩擦雙手後觸摸門(mén)把手(shǒu),則會感覺到觸電,冬天睡覺前脫下毛衣時產生的電弧以及下雨天的閃(shǎn)電。這些實際上是發生在我們身上的ESD事件。

幹燥的環境可(kě)能導致(zhì)我們(men)的身體攜(xié)帶(dài)數十萬伏特的靜電。如果觸摸沒有保護的電(diàn)子(zǐ)設備(例如手機)的屏幕,ESD將(jiāng)通過麵(miàn)板的FPC進入電子設備的內部電路,並立即釋放高達數十安培的電流。如今,半導體工藝技(jì)術變得越(yuè)來越複雜,最.先.進的(de)工藝技術已(yǐ)達到(dào)7nm。但是,如此昂貴的高.端IC芯片本身卻沒有以前(qián)那麽好的ESD耐受性,這使得使用該芯(xīn)片的(de)先進電子設備麵臨巨大挑戰。在較小的情況下,ESD事(shì)件會幹(gàn)擾電子設備的正常運行。在嚴重的情況下,ESD可能會直(zhí)接(jiē)破(pò)壞電子設備的內部(bù)IC芯片,

EOS是電氣過應力。當外部電流或電壓超過設備(bèi)或電(diàn)子產品(pǐn)的最大規格時,產品性能可能會(huì)減弱甚至損壞(huài)。EOS的產生有多種情況,包括電源(yuán)不穩定引起的電湧,熱插拔引起的瞬態浪湧電流,雷(léi)擊產生的瞬態感應電流以及測試過程中接線錯誤……

2.電源ESD/ EOS解決方案

對於(yú)電子設(shè)備的係統級測試,使用的靜電測試環境必須符(fú)合IEC61000-4-2標準。標準(zhǔn)文件中規定了接(jiē)觸放電和空氣放電的兩種測試方(fāng)法。針對不同的(de)環境和電子(zǐ)產品,品牌(pái)製造(zào)商可以根據實際應用(yòng)環境和需求設置相應的測試級別。對於小型麵板產品,通常建議(yì)執行±8kV的接觸放電(diàn)和±15kV的(de)空氣放電測試。建立合理的測試標準可(kě)以提高產品的可靠性並降低產品退貨率。

除了ESD測試外,許多小尺寸麵板產品還通過8/20μs的浪湧(yǒng)波形(xíng)來完成(chéng)EOS測試。該(gāi)測試是根據IEC61000-4-5標準文件執行的。測試電(diàn)壓等級和測試的位置也由客戶根據實際情況進行(háng)。目前(qián),國(guó)內外(wài)許多知.名手機品牌已經(jīng)製定了相關的(de)測試標準,主要針對VSP,VSN,VCI(1.8V)電源。由於FPC組件領域的空間限製,它可以(yǐ)利用單個DFN1006(0402)封裝甚至是(shì)較小尺寸的CSP0603(0201)封裝的(de)TVS產品都要進行保護。

3.什麽是MIPI VCC VSN VSP VCI

VCC:供電電源(yuán),這沒(méi)啥好說的;

VSN、VSP:液晶驅動電源,就是(shì)可以給控製像素點透光的電容充電,一個正電壓一個負電(diàn)壓,還有一種做法是隻有一個正電壓(yā)叫AVDD;

VGH、VGL:像素點上開關管(guǎn)的開啟關閉電壓,加在開關管的柵極上,VGH高電平打開給像素點電容充電,VGL 負(fù)電壓關閉開關(guān)管;

VCOM:液晶像素點(diǎn)的存儲電容共用電極;

VCI  接口供電電壓RESET:液晶屏的重啟(qǐ)引腳;

4.最佳MIPI ESD保護解決方案

為了確(què)保數據線信號(hào)傳輸的完整性,電源電壓和相關IC芯片的穩定性不受(shòu)ESD的影響,有必要在與MIPI相對(duì)應的線路上(shàng)增加ESD保護(hù)器件。對於複雜的線路要求,目前添(tiān)加半導體TVS(瞬態(tài)電壓(yā)抑(yì)製器)產品是最佳的保護解決方案。當TVS管的兩(liǎng)端受到瞬時高能(néng)衝擊時,它可以以非常快的響應速度(<1ns)突然降低阻抗(kàng),將大電流引向地麵,並(bìng)在兩端之間施(shī)加鉗位電壓預定值,以確保保護後續電路組件免受(shòu)瞬態高能衝(chōng)擊。

半(bàn)導體TVS具有響(xiǎng)應(yīng)時間快,瞬態功率大,電容低,漏電流小(xiǎo),擊穿電壓小,鉗位電壓低,尺寸小和易(yì)於安裝的優點。在TVS選擇中,由於MIPI接口數(shù)據線的信號傳輸速率很快(kuài),因此建(jiàn)議使用低容量(≤0.5pF)的保護解決方案。另外,由於(yú)小尺寸麵板的FPC組件區域的空間有限,在低ESD鉗位電壓的前提下,還需要盡可能多地選(xuǎn)擇小封(fēng)裝TVS器件(jiàn)。

總而言(yán)之,為了改(gǎi)善電子產品的使用體(tǐ)驗並延長電子(zǐ)產品的使用壽命(mìng),各種測試要求將不斷增加,而ESD/ EOS的測(cè)試需求也(yě)將不斷(duàn)增加。另外,當前各種類型的(de)IC芯片的製(zhì)造工藝技術變得越來越先進,導致芯片的公差越來越低。為了通過更嚴格的ESD/EOS測試,敏感芯片接口處或附近(jìn)的電路需要考慮一種(zhǒng)更有(yǒu)效的保護解決(jué)方案。


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