手機電磁兼容測試:ESD靜電放電問題盤點

靜電放電（diàn）（ESD）的破壞作用具（jù）有隱（yǐn）蔽性、潛（qián）在性、隨機性（xìng）和複雜性的特點。來自Intel的資料表明，在（zài）引起電子器件故障的諸多因素中，ESD是最大的隱患。所以，模（mó）擬靜電放電的測試在世界範圍內得到廣泛關注。

手機（jī）靜電放電（diàn）失效的具體表（biǎo）現

1. 手機通話中斷。
2. 手機部分功能失效，但試驗（yàn）結束後或重新啟動手機，可以恢複正常。具體（tǐ）表現為（wéi）：屏幕顯示異常（cháng），如白屏、條紋、亂碼、模糊（hú）等；通話異常，如嘯叫聲或聲音時斷時續；按鍵（觸摸屏）功能異常（cháng）；軟件誤（wù）報警，例如並未（wèi）進行（háng）充電器插拔，卻頻繁提示“充電已連接、充電器已移除"。
3. 手機自動關機或重新啟（qǐ）動。可能發生在通話狀態或（huò）待機狀態。
4. 手機失效或損壞。如攝像頭等部（bù）分器件損壞；手機與充電器相連（lián）進（jìn）行測（cè）試（shì）時，充電器也可（kě）能出現失（shī）效、損壞甚至爆炸等問題。

手機靜電放（fàng）電失效的具體分析

手機靜電放電失效的改（gǎi）進建議

盡量選（xuǎn）擇靜電敏感度等級高的器件。器（qì）件與靜電源隔離，減少回路麵積(麵（miàn）積越（yuè）大，所包含（hán）的場流（liú）量越大，其感應電流越大)。具體的（de）措施可能包括（kuò）：走線越短越好；電源與地越接近越好；存在多（duō）組（zǔ）電源和地時，以格子方式連接；太長的信號線（xiàn）或電源線宜（yí）與地線（xiàn）交錯（cuò）布置；信號線越靠近地線越（yuè）好；同一特性器件（jiàn）越近越（yuè）好；盡量在PCB上使用完整的（de）地平麵，PCB接地麵積越大越（yuè）好，不要有大的缺口，PCB的接地線要低阻抗（kàng）；電源、地布局在板中間比（bǐ）在四周好；在電源和地之間（jiān）放置高頻旁路電（diàn）容；保護靜（jìng）電敏感的元器件。